产品 |
型号 |
品牌 |
参数 |
通用存储器 |
RP-SMPE16DA1 |
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通用存储器 |
RP-SMSC08DA1 |
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通用存储器 |
RP-SMTE64DA1 |
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通用存储器 |
RP-SMLF08DA1 |
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通用存储器 |
RP-SMLE32DA1 |
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通用存储器 |
RP-SDUE12DA1 |
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通用存储器 |
RP-SDME08DA1 |
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通用存储器 |
RP-SDGD64DA1 |
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通用存储器 |
RP-SDGD32DA1 |
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异步动态随机存储器(DRAM) |
MT47H64M8SH-25E IT:H |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 时钟频率:400MHz 写周期时间 - 字,页:15ns 访问时间:400ps 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:-40°C ~ 95°C(TC) 封装/外壳:60-TFBGA 存储容量:512 Mbit 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:800 MHz 电源电压-最大:1.9 V 电源电压-最小:1.7 V 电源电流—最大值:95 mA 系列:MT47H 组织:64 M x 8 |
异步动态随机存储器(DRAM) |
MT47H64M8SH-25E:H |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 时钟频率:400MHz 写周期时间 - 字,页:15ns 访问时间:400ps 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:0°C ~ 85°C(TC) 封装/外壳:60-TFBGA 存储容量:512 Mbit 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:800 MHz 电源电压-最大:1.9 V 电源电压-最小:1.7 V 电源电流—最大值:95 mA 系列:MT47H 组织:64 M x 8 |
异步动态随机存储器(DRAM) |
MT47H32M16NF-25E:H |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 时钟频率:400MHz 写周期时间 - 字,页:15ns 访问时间:400ps 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:0°C ~ 85°C(TC) 封装/外壳:84-TFBGA 存储容量:1 Gbit 数据总线宽度:16 bit 最大时钟频率:800 MHz 电源电压-最大:1.9 V 电源电压-最小:1.7 V 电源电流—最大值:95 mA 系列:MT47H 组织:64 M x 16 |
异步动态随机存储器(DRAM) |
MT47H128M8SH-25E IT:M |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 时钟频率:400MHz 写周期时间 - 字,页:15ns 访问时间:400ps 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:-40°C ~ 95°C(TC) 封装/外壳:60-TFBGA 存储容量:1 Gbit 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:800 MHz 电源电压-最大:1.9 V 电源电压-最小:1.7 V 电源电流—最大值:95 mA 系列:MT47H 组织:128 M x 8 |
异步动态随机存储器(DRAM) |
MT41K64M16TW-107:J |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 存储容量:1Gb (64M x 16) 时钟频率:933MHz 访问时间:20ns 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.283 V ~ 1.45 V 工作温度:0°C ~ 95°C(TC) 封装/外壳:96-TFBGA 系列:MT41K |
异步动态随机存储器(DRAM) |
MT41K64M16TW-107 IT:J |
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存储器类型:易失 存储器格式:DRAM 存储容量:1Gb (64M x 16) 时钟频率:933MHz 访问时间:20ns 存储器接口:并联 电压 - 电源:1.283 V ~ 1.45 V 工作温度:-40°C ~ 95°C(TC) 封装/外壳:96-TFBGA 系列:MT41K |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
BR24G16FJ-3GTE2 |
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存储器类型:非易失 存储容量:16Kb (2K x 8) 时钟频率:400kHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:I²C 电压-电源:1.6 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOP-J |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
FT25C64A-USR-T |
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存储器类型:非易失 存储器格式:EEPROM 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:20MHz 写周期时间 - 字,页:5ms 存储器接口:SPI 电压 - 电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOP |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
FT24C1024A-USR-T |
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存储器类型:非易失 存储器格式:EEPROM 存储容量:1Mb (128K x 8) 时钟频率:400kHz 写周期时间 - 字,页:5ms 访问时间:900ns 存储器接口:I²C 电压 - 电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOP |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q16CSIGR |
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系列:SPI Interface Flash 电压:3V Density:16M bit 封装/外壳:SOP8 208mil 工作温度:-40℃ to +85℃ 包装:Tape and Reel |
非易失闪存(NAND Flash) |
GD5F4GQ4RBYIG |
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非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q16CEFGR |
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电压:3V Density:16M bit 封装/外壳:USON8 (3x2mm, 0.45mm thickness) 工作温度:-40°C~85°C |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q40CEIGR |
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电可擦只读存储器(EEPROM) |
GT24C02A-2GLI-TR |
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通用存储器 |
RP-SDFC51DA1 |
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通用存储器 |
M24512-RDW6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:512Kb (64K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:500ns 存储器接口:I²C 电压-电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-TSSOP 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M93C46-WMN6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:1Kb(128 x 8,64 x 16) 时钟频率:2MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:SPI 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:Microwire 3 线串行 |
通用存储器 |
M24C64-WMN6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:450ns 存储器接口:I²C 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 速度:400kHz 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M24C32-RMN6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:32Kb (4K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:450ns 存储器接口:I²C 电压-电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 速度:400kHz 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M24C16-WMN6TP |
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湿气敏感性等级(MSL):1(无限) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 存储容量:16kbit 宽度:4mm(Max) 工作电源电压:3.3V,5V 工作电源电流(mA):2mA 接口类型:Serial,2-Wire,I2C 数据保留:40Year 最大时钟频率:0.4MHz 电源电压-最大:5.5V 电源电压-最小:2.5V 电源电流—最大值:2mA 系列:M24C16-W 组织:2kx8 编程电压:2.5Vto5.5V 访问时间:900ns 长度:5mm(Max) 高度:1.65mm(Max) 工作温度:-40°C ~ 85°C |
通用存储器 |
M24C04-WMN6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:4Kb (512 x 8) 时钟频率:400kHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:900ns 存储器接口:I²C 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M24C02-RMN6TP |
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存储器类型:非易失 存储容量:2Kb (256 x 8) 时钟频率:400kHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:900ns 存储器接口:I²C 电压-电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:I²C,2 线串口 |
存储卡 |
2988793 |
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存储卡 |
2701185 |
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静态随机存取存储器(SRAM) |
IS62WV51216EBLL-45TLI |
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封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS62WV51216BLL-55TLI-TR |
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封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS62WV51216BLL-55TLI |
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封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS61WV51216EDBLL-10TLI-TR |
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封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS61WV25616EDBLL-10TLI |
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封装/外壳:44-TSOP II |
异步动态随机存储器(DRAM) |
IS61WV25616BLL-10TLI-TR |
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封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS61WV6416EEBLL-10TLI-TR |
|
封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
IS62WV51216BLL-55TLI |
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封装/外壳:44-TSOP II |
异步动态随机存储器(DRAM) |
IS42S16800F-7TL-TR |
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封装/外壳:54-TSOP II |
异步动态随机存储器(DRAM) |
IS42S16400J-7TL |
|
封装/外壳:54-TSOP II |
同步动态随机存储器(SDRAM) |
IS42S16400J-6TLI |
|
封装/外壳:54-TSOP II |
同步动态随机存储器(SDRAM) |
IS42S16160G-7TLI |
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封装/外壳:54-TSOP II |
存储卡 |
2913157 |
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非易失闪存(NAND Flash) |
GD5F4GQ4UCYIGY |
|
内存容量:4Gbit 内存种类:NAND Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:120MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NAND Flash) |
GD5F4GQ4RCYIGY |
|
内存容量:4Gbit 内存种类:NAND Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40...85°C 工作电压:1.7...2V 工作频率:120MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q80CTIG |
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封装/外壳:SOP-8 存储容量:8 Mbit |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q64CWIGR |
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内存容量:64Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:120MHz 接口:Quad I/O 集成电路类型:内存 电压:3V Density:64M bit |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q64CFIGR |
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非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q41BTIGR |
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封装/外壳:SOP8 容量:4Mb |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q40CTIGR |
|
内存容量:4Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:SOP8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:120MHz 接口:Quad I/O 集成电路类型:内存 电压:3V |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q32CWIGR |
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内存容量:32Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40°C~85°C 工作电压:2.7V~3.6V 工作频率:120MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q32CSIGR |
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电压:3V Density:32M bit 封装/外壳:SOP8 208mil 工作温度:-40°C~85°C |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q20CTIGR |
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内存容量:2Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:SOP8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:120MHz 接口:Dual SPI 接口:QUAD SPI 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q16CSIGR |
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系列:SPI Interface Flash 电压:3V Density:16M bit 封装/外壳:SOP8 208mil 工作温度:-40℃ to +85℃ 包装:Tape and Reel |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q127CYIGR |
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内存容量:128Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:104MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q127CSIG |
|
内存容量:128Mbit 内存种类:NOR Flash 封装/外壳:SOP8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:104MHz 集成电路类型:内存 电压:3V Density:128M bit |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25Q127CFIGR |
|
内存容量:128Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:SO16 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:104MHz 接口:Quad I/O 集成电路类型:内存 电压:3V Density:128M bit |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25LQ64CWIGR |
|
内存容量:64Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:WSON8 工作温度:-40...85°C 工作电压:1.65...2V 工作频率:133MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25LQ64CVIGR |
|
内存容量:64Mbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:VSOP8 工作温度:-40...85°C 工作电压:1.65...2V 工作频率:133MHz 接口:Quad I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
非易失闪存(NOR Flash) |
GD25LQ64CSIGR |
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非易失闪存(NOR Flash) |
GD25D05BTIG |
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内存容量:512kbit 内存种类:NOR Flash 安装:SMD 封装/外壳:SOP8 工作温度:-40...85°C 工作电压:2.7...3.6V 工作频率:80MHz 接口:Dual I/O 接口:SPI 集成电路类型:内存 |
通用存储器 |
RP-SMKC16DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SMKC08DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SMKC04DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SDPC04DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SDPC08DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SDPC16DA1n: |
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通用存储器 |
RP-SDF02GDA1n: |
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铁电存储器(FRAM) |
FM25CL64B-GTRn: |
|
电压-电源:2.7 V ~ 3.65 V 存储器类型:非易失 存储器格式:FRAM 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:20MHz 存储器接口:SPI 电压 - 电源:2.7 V ~ 3.65 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC |
嵌入式多媒体卡(eMMC) |
THGBMFG8C4LBAIR |
Toshiba Memory(东芝存储) |
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嵌入式多媒体卡(eMMC) |
KLMBG2JETD-B041 |
Samsung |
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双倍速率同步动态随机存储器(DDR) |
K9F1G08U0F-SCB0 |
Samsung |
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通用存储器 |
BR24T02FVT-WE2 |
ROHM(罗姆) |
工作温度:-40°C~85°C(TA) 电压-供电:1.6V ~ 5.5V 技术:EEPROM 时钟频率:400kHz 封装/外壳:8-TSSOP-B 存储器格式:EEPROM 存储容量:2Kb(256 x 8) 写周期时间-字,页:5ms 存储器类型:非易失 存储器接口:I?C |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
BR24G512FJ-3AGTE2 |
ROHM(罗姆) |
存储器类型:非易失 存储容量:512Kb (64K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:I²C 电压-电源:1.7 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOP-J |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
GT24C08A-2GLI-TR |
Giantec(聚辰) |
|
电可擦只读存储器(EEPROM) |
GT24C02A-2GLI-TR |
Giantec(聚辰) |
|
电可擦只读存储器(EEPROM) |
GT24C08A-2GLI-TR |
Giantec(聚辰) |
|
电可擦只读存储器(EEPROM) |
M24C32-FDW6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:32Kb (4K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:450ns 存储器接口:I²C 电压-电源:1.7 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-TSSOP 速度:400kHz 接口:I²C,2 线串口 |
铁电存储器(FRAM) |
FM24C64B-GTR |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:F-RAM™ 存储器类型:非易失 存储器格式:FRAM 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:1MHz 访问时间:550ns 存储器接口:I²C 电压-电源:4.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 电压 - 电源:4.5 V ~ 5.5 V 封装/外壳:8-SOIC |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY7C1021DV33-10ZSXIT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:1Mb (64K x 16) 访问时间:10ns 存储器接口:并联 电压-电源:3 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 写周期时间 - 字,页:10ns 电压 - 电源:3 V ~ 3.6 V 封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY62256NLL-70SNXCT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:MoBL® 存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:256Kb (32K x 8) 访问时间:70ns 存储器接口:并联 电压-电源:4.5 V ~ 5.5 V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 写周期时间 - 字,页:70ns 电压 - 电源:4.5 V ~ 5.5 V 封装/外壳:28-SOIC |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY62128EV30LL-45ZAXIT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:MoBL® 存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:1Mb (128K x 8) 访问时间:45ns 存储器接口:并联 电压-电源:2.2 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 写周期时间 - 字,页:45ns 电压 - 电源:2.2 V ~ 3.6 V 封装/外壳:32-sTSOP |
电可擦只读存储器(EEPROM) |
M24C32-FDW6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:32Kb (4K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:450ns 存储器接口:I²C 电压-电源:1.7 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-TSSOP 速度:400kHz 接口:I²C,2 线串口 |
铁电存储器(FRAM) |
FM24C64B-GTR |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:F-RAM™ 存储器类型:非易失 存储器格式:FRAM 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:1MHz 访问时间:550ns 存储器接口:I²C 电压-电源:4.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 电压 - 电源:4.5 V ~ 5.5 V 封装/外壳:8-SOIC |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY7C1021DV33-10ZSXIT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:1Mb (64K x 16) 访问时间:10ns 存储器接口:并联 电压-电源:3 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 写周期时间 - 字,页:10ns 电压 - 电源:3 V ~ 3.6 V 封装/外壳:44-TSOP II |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY62256NLL-70SNXCT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:MoBL® 存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:256Kb (32K x 8) 访问时间:70ns 存储器接口:并联 电压-电源:4.5 V ~ 5.5 V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 写周期时间 - 字,页:70ns 电压 - 电源:4.5 V ~ 5.5 V 封装/外壳:28-SOIC |
静态随机存取存储器(SRAM) |
CY62128EV30LL-45ZAXIT |
CYPRESS(赛普拉斯) |
系列:MoBL® 存储器类型:易失 存储器格式:SRAM 存储容量:1Mb (128K x 8) 访问时间:45ns 存储器接口:并联 电压-电源:2.2 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 写周期时间 - 字,页:45ns 电压 - 电源:2.2 V ~ 3.6 V 封装/外壳:32-sTSOP |
同步动态随机存储器(SDRAM) |
K4B4G1646E-BYMA |
Samsung |
|
嵌入式多媒体卡(eMMC) |
KLM8G1GETF-B041 |
Samsung |
|
通用存储器 |
ST25TV02K-AP6G3 |
ST(意法半导体) |
系列:ST25TV02K |
通用存储器 |
M93C86-WMN6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:16Kb (2K x 8,1K x 16) 时钟频率:2MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:SPI 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:Microwire 3 线串行 |
通用存储器 |
M93C76-RMN3TP/K |
ST(意法半导体) |
封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 格式 - 存储器:EEPROM 存储器类型:非易失 存储容量:4Kb (512 x 8,256 x 16) 速度:2MHz 接口:Microwire 3 线串行 电压 - 电源:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 125°C(TA) 写周期时间 - 字,页:5ms 存储器接口:SPI |
通用存储器 |
M93C66-WMN6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:4Kb (512 x 8,256 x 16) 时钟频率:2MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:SPI 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:Microwire 3 线串行 |
通用存储器 |
M93C46-WMN6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:1Kb(128 x 8,64 x 16) 时钟频率:2MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:SPI 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 接口:Microwire 3 线串行 |
通用存储器 |
M34E04-FMC9TG |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:4Kb (512 x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 存储器接口:I²C 电压-电源:1.7 V ~ 3.6 V 工作温度:0°C ~ 95°C(TA) 封装/外壳:8-uFDFPN(2x3) 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M24C64-WMN6TP |
ST(意法半导体) |
存储器类型:非易失 存储容量:64Kb (8K x 8) 时钟频率:1MHz 写周期时间-字,页:5ms 访问时间:450ns 存储器接口:I²C 电压-电源:2.5 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SO 速度:400kHz 接口:I²C,2 线串口 |
通用存储器 |
M24C64S-FCU6T/TF |
ST(意法半导体) |
系列:M24C64S-FCU |