产品 |
型号 |
品牌 |
参数 |
电压检测 |
XC6119C19ANR-G |
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封装/外壳:SSOT24 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压 - 阈值:1.9V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6119C20ANR-G |
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封装/外壳:SSOT24 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压 - 阈值:2V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6121A432MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 200ms 电压 - 阈值:3.2V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6119N50ANR-G |
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封装/外壳:SSOT24 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压 - 阈值:5V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6122A528MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 400ms 电压 - 阈值:2.8V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6123F728MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 800ms 电压 - 阈值:2.8V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6120C402HR-G |
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封装/外壳:USP3 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 电压 - 阈值:4V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6121E626MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 1.6s 电压 - 阈值:2.6V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6123E542MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 400ms 电压 - 阈值:4.2V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6119C41A7R-G |
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封装/外壳:USPN4 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压 - 阈值:4.1V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6120N162HR-G |
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封装/外壳:USP3 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:1.6V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6121A619MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 1.6s 电压 - 阈值:1.9V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC61GN2802HR |
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封装/外壳:USP3 |
电压检测 |
BD5231G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:3.1V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD5223G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.3V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4842G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4.2V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4828G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.8V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4827G-TR |
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封装/外壳:SC-74A,SOT-753 FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:2.7V 工作温度:-40°C ~ 105°C(TA) |
电压检测 |
BD4845G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4.5V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD5240G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4929G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.9V 封装/外壳:5-VSOF 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4924G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.4V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4843G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4.3V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4837G-TR |
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封装/外壳:SC-74A,SOT-753 FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:3.7V 工作温度:-40°C ~ 105°C(TA) |
电压检测 |
BD4825G-TR |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.5V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
XC6124E631MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 1.6s 电压 - 阈值:3.1V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6123F629MR-G |
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封装/外壳:SOT25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:标准为 1.6s 电压 - 阈值:2.9V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6119C18A7R-G |
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封装/外壳:USPN4 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压 - 阈值:1.8V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6108C30BGR-G |
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封装/外壳:USP4 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:低有效 电压 - 阈值:3V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
XC6108N28AGR-G |
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封装/外壳:USP4 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:2.8V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) |
电压检测 |
BD4827G-TRn: 0 |
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封装/外壳:SC-74A,SOT-753 FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:2.7V 工作温度:-40°C ~ 105°C(TA) |
电压检测 |
BD4842G-TRn: 0 |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4.2V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD5240G-TRn: 0 |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
BD4825G-TRn: 0 |
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工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.5V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效 |
电压检测 |
RT9829GQW |
Richtek(立锜) |
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电压检测 |
MD8046C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD8042C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD8040C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7070/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7050/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7050/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7042/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7042/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7036/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033C/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7030/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7030/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7030/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7027C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7027C/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7027/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7027/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7025C/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7024/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7024/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7024/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7023/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7023/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7022/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7022/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7021/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7021/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7020/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7020/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7019/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7015/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD8046C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD8042C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD8040C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7070/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7050/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7050/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7044/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7042/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7042/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7039/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7036/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033C/SOT23-5 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033C/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7033/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
|
电压检测 |
MD7033/SOT23-3 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7030/TO-92 |
MingDa(明达微) |
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电压检测 |
MD7030/SOT89-3 |
MingDa(明达微) |
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