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    电路监控 ISL6536IBZ INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:4 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 STM6503REAADG6F ST(意法半导体) 系列:Smart Reset™ FET类型:重置计时器 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:最小为 140 ms 电压-阈值:2.625V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-TDFN
    电路监控 BD4928G-TR ROHM(罗姆) 工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.8V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效
    电路监控 BD4927G-TR ROHM(罗姆) 工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.7V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效
    电路监控 BD4926G-TR ROHM(罗姆) 工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:2.6V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效
    电路监控 BD4850G-TR ROHM(罗姆) 工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:5V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效
    电路监控 BD4846G-TR ROHM(罗姆) 工作温度:-40°C~105°C(TA) 电压-阈值:4.6V 封装/外壳:5-SSOP 受监控电压数:1 复位:低有效
    电路监控 BD4830FVE-TR ROHM(罗姆) 系列:BD48xxx FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压-阈值:3V 工作温度:-40°C ~ 105°C(TA) 封装/外壳:5-VSOF
    电路监控 ISL6131IRZA INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:4 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:24-VQFN
    电路监控 STM6519AUARUB6F ST(意法半导体) 系列:Smart Reset™ FET类型:重置计时器 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:6-UDFN(1.45x1)
    电路监控 ICL7665SCPAZ INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:2 输出:开路漏极或开路集电极 复位:高有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-PDIP
    电路监控 ICL7665SAIBAZA-T INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:2 输出:开路漏极或开路集电极 复位:高有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 ICL7665SAIBAZA INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:2 输出:开路漏极或开路集电极 复位:高有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 ICL7665SACPAZ INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:2 输出:开路漏极或开路集电极 复位:高有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-PDIP
    电路监控 ICL7665SACBAZ INTERSIL FET类型:多压监控器 受监控电压数:2 输出:开路漏极或开路集电极 复位:高有效 电压-阈值:可调节/可选择 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 SP813LEP-L Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:4.65V 封装/外壳:8-PDIP FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:高有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:4.65V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-DIP 封装/外壳:8-PDIP
    电路监控 SP813LEN-L Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:4.65V 封装/外壳:8-SOIC FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:高有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:4.65V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 XC6129C36C7R-G Torex(特瑞仕) 封装/外壳:USPN-4
    电路监控 SP813LCN-L Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:4.65V 封装/外壳:8-SOIC FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:高有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:4.65V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 SP810EK-L-4-4/TR Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:4.4V 封装/外壳:SOT-23-3 FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:推挽式,图腾柱 复位:高有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:4.4V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:TO-236-3,SC-59,SOT-23-3 封装/外壳:SOT-23-3
    电路监控 SP708TCN-L/TR Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:3.08V 封装/外壳:8-SOIC FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:高有效/低有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:3.08V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 SP705CU-L/TR Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:4.65V 封装/外壳:8-MSOP FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:低有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:4.65V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-TSSOP,8-MSOP(0.118",3.00mm 宽) 封装/外壳:8-MSOP
    电路监控 SP690TEN-L Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:3.08V 封装/外壳:8-SOIC FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:低有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:3.08V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 SP690TCN-L/TR Exar-MaxLinear(艾科嘉) 电压-阈值:3.08V 封装/外壳:8-SOIC FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 复位:低有效 复位超时:最小为 140 ms 电压 - 阈值:3.08V 工作温度:0°C ~ 70°C(TA) 封装/外壳:8-SOIC(0.154",3.90mm 宽) 封装/外壳:8-SOIC
    电路监控 XC6118N20AMR-G Torex(特瑞仕) 封装/外壳:SOT-25 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压 - 阈值:2V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA)
    电路监控 BD5230FVE-TR ROHM(罗姆) FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 电压-阈值:3V 工作温度:-40°C ~ 105°C(TA) 封装/外壳:5-VSOF
    电路监控 STM1831L24WY6F ST(意法半导体) FET类型:简单复位/加电复位 受监控电压数:1 Ohms 输出:开路漏极或开路集电极 复位:低有效 复位超时:可调节/可选择 电压-阈值:2.4V 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA) 封装/外壳:SOT-23-5 人工复位:Manual Reset 功率失效检测:Yes 工作电源电流(mA):0.8uA 欠电压阈值:2.3V 电池备用开关:Backup 电源电压-最大:6 V 电源电压-最小:1.6V 看门狗计时器:No Watchdog 系列:STM1831 被监测输入数:1 Input 输出类型:Active Low 过电压阈值:2.5V 重置延迟时间:55 us 阈值电压:1.6 V to 5.7 V

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